鋰電池目前面臨著高成本限制帶來的挑戰(zhàn),這主要與價格飛漲和過渡金屬(TMs)需求增加有關,尤其是Co,Co是廣泛使用的商用正極的核心材料成分,如LiCoO2、LiNixMnyCo1?x?yO2和LiNi0.8Co0.15Al0.05O2。當前Co供應的瓶頸已對商用電池生產產生了負面影響,并激發(fā)了對低Co正極材料的開發(fā)。富鎳層狀氧化物正極具有高容量和高能量密度。然而,由于電池性能和熱穩(wěn)定性的顯著降低,用Ni直接代替Co實際上并不可行。想要取代或減少Co必須理解為什么Co在層狀氧化物正極中至關重要。一般認為,Co通過減少富鎳成分中的Li/Ni無序來抑制結構缺陷,并獲得結晶良好的層狀結構。這有助于確保富鎳正極的倍率性能,但循環(huán)過程中對結構穩(wěn)定性的影響尚不清楚。從根本上說,Co、其它金屬離子和晶格O之間的協(xié)同效應不僅決定了富鎳正極的內在結構特征,而且影響了充放電過程中的結構轉變。此外,由于O和Co氧化還原電位的重疊,Co實際上有害地促進了高晶格O活性,從而導致氧釋放和不可逆相轉變。由于高Ni含量被廣泛認為是容量退化的根本原因,盡管Co與富鎳正極的電化學性能密切相關,但其對結構轉變和晶格穩(wěn)定性的影響尚未得到太多研究。此外Co相關陽離子混合與富鎳材料的動態(tài)結構穩(wěn)定性之間的關系同樣不清楚。為正確開發(fā)無鈷正極或確定適當?shù)某煞痔娲?,需要對富鎳正極中Co的功能有一個全面的了解。
在此,美國阿貢國家實驗室陸俊、Khalil Amine聯(lián)合北京大學深圳研究生院潘鋒通過設計富鈷LiNi0.6Co0.4O2、無鈷LiNi0.6Mn0.4O2和低鈷LiNi0.6Mn0.2Co0.2O2,系統(tǒng)研究了Co在富鎳層狀正極材料中的作用。研究結果證實,Co在快速容量衰減和結構退化中起著不可否認的作用,并且在高電位下Co比Ni更具破壞性,這為降低Co提供了意想不到但令人鼓舞的前景。此外,Mn替代有效地減輕了Co的破壞作用,使其具有很高的潛在功能性。相關工作以題為“Understanding Co roles towards developing Co-free Ni-rich cathodes for rechargeable batteries”發(fā)表在國際著名期刊Nature Energy上。
【圖文導讀】
1、定量原子占用率分析
采用共沉淀法合成了三種成分分別為LiNi0.6Co0.4O2(NC64)、LiNi0.6Mn0.4O2(NM64)和LiNi0.6Mn0.2Co0.2O2(NMC622)的富鎳層狀氧化物正極。同時研究了Co和Mn對富鎳層狀氧化物正極的潛在影響。由于NMC622的成分適中,因此選擇其作為對照樣品。
首先采用高能X射線衍射(HEXRD)分析了三種樣品的結構和原子占有率。如圖1a–c所示,富鈷NC64顯示出分別占據(jù)3a和3b位的Li和TMs,其提供了幾乎沒有Li/Ni無序的近乎完美的層狀結構。與作者先前的結果一致,Co3+能夠通過抑制阻挫和超交換插層來減少Li/Ni紊亂。通過Mn取代減少Co形成NMC622,Li/Ni無序度明顯增加到4%。在NM64中利用Mn完全取代Co進一步使Li/Ni無序度至少增加了7%。在無鈷正極中,Ni2+/Ni3+和Mn4+中存在的強阻挫以及TMs和反位Ni2+之間的超交換插層促進了Li/Ni無序的增加。結果表明,Co對Li/Ni無序的形成有明顯的抑制作用。相比之下,富鎳正極中的Mn容易形成Li/Ni無序,可以通過調節(jié)煅燒溫度來優(yōu)化Li/Ni無序。
此外,像差校正高分辨率透射電子顯微鏡(TEM)圖像證實了三個樣品的典型層狀結構。如圖1d所示,在Li層中沒有可見的亮點,這證明對于NC64樣品,Li/Ni無序可以忽略不計。當對NMC622樣品進行原子級檢查時(圖1e),在Li層中發(fā)現(xiàn)了少量弱信號,這表明NMC622中存在Li/Ni無序。在NM64樣品上進行的類似檢查表明,在NM64中存在大量Li/Ni無序(圖1f)。TEM原子結構觀察和XRD精修結果表明,Li/Ni無序度隨Co含量的增加而降低,但隨Mn含量的增加而提高。
圖1 通過HEXRD精修和像差校正高分辨率TEM進行定量原子占用率分析。(a)NC64、(b)NMC622和(c)NM64樣品的HEXRD衍射和精修;原子級觀測(d)NC64、(e)NMC622和(f)NM64樣品的TEM圖像。
2、首次充放電過程中的原位HEXRD表征
為進一步了解不同Co/Mn含量對電化學性能的影響,對NC64、NMC622和NM64進行了原位HEXRD表征。布拉格反射表明,三種正極在充放電過程中的結構變化完全不同。如圖2a所示,NC64表現(xiàn)出明顯的結構演變,其中大多數(shù)衍射峰隨脫鋰/嵌鋰而明顯移動。最初,從M到H2的可見相變是通過NC64樣品中的[110]和[113]峰進行跟蹤的。進入H2相后,[003]峰開始左移,并在4.25 V處達到局部最大值,這表明層間空間隨著靜電斥力的增加而增大。之后,[003]峰明顯右移至4.5 V,對應于從H2到H3的相變,層間距迅速減小。晶格參數(shù)的這種急劇變化將以微裂紋形式破壞顆粒內和顆粒間的形態(tài)。放電過程中,NC64的結構演化遵循逆相變序列。然而,特別值得注意的是,在首次循環(huán)之后,大多數(shù)峰偏離了它們原來的2θ位置,這表明在首次循環(huán)期間發(fā)生了不可逆的結構演化。這種變化會對長期循環(huán)產生不利影響,并最終導致結構退化和容量衰退。NMC622具有相似的相變過程,但可逆性增強。與晶格膨脹/收縮相關的左/右[003]峰移明顯弱于NC64中的峰移(圖2b)。NMC622在首次充放電循環(huán)中具有更為對稱的結構演化,其中大多數(shù)衍射峰恢復到原來的2θ位置。與NC64和NMC622相比,NM64經歷了完全不同的結構演化過程。對于NM64,從H1到H2的相變是平滑的(圖2c),出現(xiàn)了輕微的峰移,并且中間M相完全不存在,而在NC64和NMC622期間觀察到突變的峰躍遷。晶格膨脹和收縮自然存在于高度脫鋰的NM64中,但在這種情況下僅表現(xiàn)出輕微的變化。在放電過程中,NM64完全回復到初始結構,表現(xiàn)出高度可逆的相變過程。
進一步對原位XRD數(shù)據(jù)進行精修,以定量分析樣品的晶格參數(shù)變化。如圖2d-f所示,三個樣品的c軸晶格參數(shù)表現(xiàn)出明顯的膨脹和收縮趨勢。特別是NC64的晶格參數(shù)變化超過5%。如此大的結構膨脹和收縮可能導致顆粒內微裂紋形式的顆粒形態(tài)損傷。隨著Co含量的降低,NMC622的晶格參數(shù)變化較小,約為2.9%,而無鈷的NM64的晶格參數(shù)變化最小,小于1%。NM64中晶格參數(shù)變化的抑制源于在層狀結構框架中形成“支承梁”的Li/Ni無序。因此,原位XRD數(shù)據(jù)再次清楚地證實,Co不可避免地導致結構的快速退化,這是結構轉變加劇的結果。通過Mn取代降低Co含量顯著提高了結構可逆性,并減弱了晶格參數(shù)的變化,這是由于優(yōu)化的Li/Ni無序對結構穩(wěn)定的積極影響,XRD結果突出顯示了這一點。
圖2 三種正極首次充放電過程中的原位HEXRD表征。原位HEXRD顯示(a)NC64、(b)NMC622和(c)NM64正極結構演化的等高線圖;(d)層狀氧化物材料典型晶格參數(shù)示意圖;(e)從精修結果中得到的樣品中a-軸晶格參數(shù)的變化;(f)從精修結果中得到的樣品中c-軸晶格參數(shù)的變化。
利用最新技術,作者深入研究了Co和Mn含量的內在特性以及Co減少(包括無鈷)對富鎳正極材料的影響。雖然高Ni含量是容量衰減的根源,但研究發(fā)現(xiàn)Co在高電位下比Ni更具破壞性,是結構不穩(wěn)定和容量衰減的不可否認的原因。該研究結果進一步表明,Co的存在抑制了Li/Ni無序,加劇了晶格參數(shù)的變化,促進了晶內微裂紋的形成。此外,研究發(fā)現(xiàn)在富鎳正極中進行Mn取代可以實現(xiàn)高壓運行。
原文鏈接:https://doi.org/10.1038/s41560-021-00776-y
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